不要把错误的概念再到处传播。关于你说的东西来自以下推算: 假设计算机损坏的磁感应强度B=2.4高斯,雷电流I=1KA时,因为B=μ0*I/2π*r ,所以r=μ0*I/2π*B代入数值,得安全距离r=4π*10[-7]*1*10[3]/2π*2.4*10[-4]=0.83m 这里有三个问题需要说。 1、关于2.4高斯。D.希尔的实验是木箱实验,是对完全‘裸露’的计算机来说的。而在现实中根本不可能存在完全‘裸露’的计算机,[不清楚谁的计算机是不放在建筑内并且没有机壳的]。因此,这一数据一般是没有用的。仅仅对部分一点多址小微波设备需要考虑。 2、关于r=μ0*I/2π*B;这一数学模型本身是有点问题的。可以参看IEC 61312-2中的推断。其是针对建筑物引下线附近的磁场强度而言的,而忽略了引下线的间距、数量和干扰。关于安全距离的问题可以参看我最近在各专业杂志连续发表的几篇论文。 3、关于1KA。好几篇论文都引用I0=100KA这一数据,而我们在考虑问题的时候应该看最恶劣的情况,应该按第二类建筑来考虑,I0=150KA。假如真的要使用这一参数,那么,在极端情况下,此建筑的外层钢筋柱需要达到150根的时候I才会等于1KA。可能吗?估计99%的建筑不可能。因此,考虑这一问题的时候,我们应该考虑30—50KA,雷电流分布80%几率的情况。 以上观点并非我个人的观点。是我和众多专家,包括目前新国家标准编写委员交流的结论。我很希望新国标19271-2出版后,这一错误可以得到纠正。 |